Установка для измерения зазора и двулучепреломления жидкокристаллических ячеек

Установка предназначена для измерения толщин прозрачных покрытий, нанесенных на стеклянные подложки любого размера, а также зазоров жидкокристаллических (ЖК) индикаторов произвольных размеров по интерференционным спектрам отражения.
Могут быть измерены следующие параметры:

• Толщина прозрачного электрода ITO (плёнка оксидов индия и олова) в пределах от 40 нм до 300 нм. Погрешность ±10 нм.
• Толщина диэлектрического покрытия (включая ориентирующее покрытие), нанесенного на ITO в пределах от 30 нм до 500 нм. Погрешность ± 10 нм.
• Величина воздушного зазора незаполненных ЖК ячеек без проводящего покрытия в пределах от 0.25 мкм до 15 мкм. Погрешность ± 4 %.
• Величина воздушного зазора незаполненных ЖК ячеек с учетом толщин и оптических свойств ITO и диэлектрика в пределах 0.25 - 15 мкм. Погрешность ±4% для толщин от 0,25 мкм до 2 мкм, погрешность ± 2% для толщин от 2 мкм до 15 мкм
• Толщина ЖК слоя заполненных ЖК экранов (при известном двулучепреломлении смеси) в пределах 1.5 - 20 мкм. Погрешность ± 4 %.
• Двулучепреломление супертвистовых экранов (Dnd) 0.5 - 1.2 мкм. Точность ± 2 %.
• Время одного измерения от 1 до 30 с.
• Электропитание установки осуществляется от сети переменного тока с напряжением (220±22) В и частотой (50±0,5) Гц.
• Потребляемая  мощность установки не более 40 Вт без учета потребляемой мощности ПЭВМ.

Программное обеспечение написано на Delphi (версия 6.0) для Windows.

Рисунок 1. Схема установки для измерения параметров ЖК ячеек. 1 - галогеновая лампа,  2 – коллимирующая линза, 3 – система зеркал, 4 – образец, 5 – световод, 6 – спектрофотометр, 7 – компьютер.

Рисунок 2. Вид рабочего окна программы при измерении зазора ЖК ячейки без дополнительных покрытий.