Научно-исследовательское учреждение

Институт прикладных физических проблем имени А.Н. Севченко

Белорусского государственного университета

en

Комаров Фадей Фадеевич

Контакт:

Тел. (+375 17)212-48-33

E-mail: Этот адрес электронной почты защищён от спам-ботов. У вас должен быть включен JavaScript для просмотра.

Лаборатория элионики

Комаров Фадей Фадеевич

Комаров Фадей Фадеевич — заведующий лабораторией элионики Научно-исследовательского учреждения «Институт прикладных физических проблем им. А.Н. Севченко» БГУ.

20.08.1945  родился в д. Галузы Чаусского района Могилевской области
1969    окончил Могилёвский государственный педагогический институт
1974    защитил кандидатскую диссертацию
1983    защитил докторскую диссертацию
1980    присвоено ученое звание доцента
1984    присвоено ученое звание профессора
1996    избран членом-корреспондентом НАН Беларуси.

В БГУ работает с 1969 года. Под его руководством создана и успешно развивается научная школа радиационной физики твёрдого тела, микро- и наноэлектроники. Впервые в мире им был предложен принцип управления пучками жестких рентгеновских и гамма-квантов. Фадеем Фадеевичем издано 18 монографий, более 400 научных работ, получено 44 авторских свидетельств на изобретения, внедрено в народное хозяйство более 50 научно-технических разработок. Ф.Ф. Комаров является лауреатом Государственной премии Республики Беларусь.

Некоторые последние публикации:

  1. Komarov, A.F., Komarov, F.F., Zukowski, P., Karwat, C., Shukan, A.L. Simulation of the process of high dose ion implantation in solid targets (1999) Nukleonika, 44 (2), pp. 363-368. (текущий импакт-фактор ­– 0.321).
  2. Zukowski, P., Karwat, C., Komarov, F.F., Komarov, A.F., Latuszyński, A. Formation of copper nitrides in the course of implanting copper with large doses of nitrogen ions (1996) Physica Status Solidi (A) Applied Research, 157 (2), pp. 373-378. (текущий импакт-фактор ­– 1.472).
  3. Komarov, A.F., Komarov, F.F., Zukowski, P., Karwat, Cz., Kamarou, A.A. Simulation of two-beam ion implantation in the multilayer and multicomponent targets (2001) Vacuum, 63 (4), pp. 495-499. (текущий импакт-фактор ­– 1.048).
  4. Komarov, F.F., Komarov, A.F., Mironov, A.M. Simulation of ion beam assisted deposition of layers on metals (1996) Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, 115 (1-4), pp. 505-507. (текущий импакт-фактор ­– 1.042).
  5. Bojko, E.B., Karwat, C., Kiszczak, K., Kolasik, M., Kołtunowicz, T., Komarov, F.F., Komarov, A.F., Kozak, C., Wdowiak, A., Zukowski, P. Deposition of monoatomic and compound metal layers by the dynamic ion mixing (2005) Vacuum, 78 (2-4), pp. 241-245. (текущий импакт-фактор ­– 1.048).
  6. Komarov, F.F., Komarov, A.F., Mironov, A.M. Influence of initial charge and charge state fluctuations on high-energy ion ranges and track formation (1999) Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, 148 (1-4), pp. 159-163. (текущий импакт-фактор ­– 1.042).
  7. Komarov, F.F., Mironov, A.M., Zayats, G.M., Tsurko, V.A., Velichko, O.I., Komarov, A.F., Belous, A.I. Two-dimensional modelling of diffusion of low-energy implanted arsenic in silicon at rapid thermal annealing (2007) Vacuum, 81 (10), pp. 1184-1187. (текущий импакт-фактор ­– 1.048).
  8. Komarov, F.F., Kamarou, A.A., Zukowski, P., Karwat, Cz., Sielanko, J., Kiszak, K., Komarov, A.F. Single-ion-beam experimental setup for combined implantation and deposition (2003) Technical Physics, 48 (5), pp. 631-635. (текущий импакт-фактор ­– 0.535).
  9. Kamarou, A., Komarov, A., Zukowski, P. Gettering of metal impurities to cavities formed by hydrogen and helium implantation in silicon (2001) Vacuum, 63 (4), pp. 609-612. (текущий импакт-фактор ­– 1.048).
  10. Komarov, F.F., Komarov, A.F. Effect of the initial charge and charge-state fluctuations on the range parameters of high-energy ions (1998) Journal of Experimental and Theoretical Physics, 86 (2), pp. 270-275. (текущий импакт-фактор ­– 0.946).
  11. Kohmura, Y., Awaji, M., Suzuki, Y., Ishikawa, T., Dudchik, Yu.I., Kolchevsky, N.N., Komarov, F.F.
    X-ray focusing test and x-ray imaging test by a microcapillary x-ray lens at an undulator beamline (1999) Review of Scientific Instruments, 70 (11), pp. 4161-4167. (текущий импакт-фактор – 1.598).
    Подробнее >>
  12. Dudchik, Yu.I., Kolchevsky, N.N., Komarov, F.F., Kohmura, Y., Awaji, M., Suzuki, Y., Ishikava, T.
    Glass capillary X-ray lens: Fabrication technique and ray tracing calculations (2000) Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment, 454 (2-3), pp. 512-519. (текущий импакт-фактор – 1.142).
    Подробнее >>
  13. Piestrup, M.A., Gary, C.K., Park, H., Harris, J.L., Cremer, J.T., Pantell, R.H., Dudchik, Y.I., Kolchevsky, N.N., Komarov, F.F.
    Microscope using an x-ray tube and a bubble compound refractive lens (2005) Applied Physics Letters, 86 (13), art. no. 131104, pp. 1-3. (текущий импакт-фактор – 3.726).
  14. Dudchik, Y.I., Kolchevsky, N.N., Komarov, F.F., Piestrup, M.A., Cremer, J.T., Gary, C.K., Park, H., Khounsary, A.M. Microspot x-ray focusing using a short focal-length compound refractive lenses (2004) Review of Scientific Instruments, 75 (11), pp. 4651-4655. (текущий импакт-фактор – 1.598).
    Подробнее >>
  15. Pikuz, S.A., Asadchikov, V.E., Chandler, K.M., Hammer, D.A., Dudchik, Yu.I., Kolchevsky, N.N., Komarov, F.F., Mitchell, M.D., Popov, A.V., Shelkovenko, T.A., Senin, R.A., Suloev, I.A., Vinogradov, A.V.
    Application of a refractive bubbles-in-capillary x-ray lens to X pinch experiments (2003) Review of Scientific Instruments, 74 (3 II), pp. 2247-2250. (текущий импакт-фактор – 1.598).
    Подробнее >>
  16. Dudchik, Yu.I., Komarov, F.F., Piestrup, M.A., Gary, C.K., Park, H., Cremer, J.T.
    Using of a microcapillary refractive X-ray lens for focusing and imaging (2007) Spectrochimica Acta - Part B Atomic Spectroscopy, 62 (6-7 SPEC. ISS.), pp. 598-602. (текущий импакт-фактор – 3.549).
    Подробнее >>
  17. Cappucio, G.; Dabagov, S. B.; Hampai, D.; Dudchick, Yu. I.; Komarov, F. F.
    A Spherical Compound Refraktive Lens to Control X-Ray Beams. International Conference on Charged and Neutral Particles Channeling Phenomena II. - 2007. - № 6634.
    Подробнее >>
  18. Artemiev, A. N.; Maevskii, A. G.; Artemiev, N. A.; Demkiv, A. A.; Dudchik, Yu. I.; Zabelin, A. V.; Kirillov, B. Ph.; Kvardakov, V. V.; Komarov, F. F.; Naida, O. V.; Porokhova, A. V.
    X-Ray “Knife” as a Submicrometer Tool for Studying Focusing Lens Quality. Journal of Surface Investigation. - 2008. - № 6. - C. 879–883.
    Подробнее >>
  19. Dudchik, Yury I.; Kolchevsky, Nicolai N.; Komarov, Fadei F.; Piestrup, Melvin A.; Theodore Cremer, J.; Gary, Charles K.; Pantell, Richard H.
    Short focal-length compound refractive lenses for x-rays.
    Подробнее >>
  20. Vlasukova, L. A.; Komarov, F. F.; Yuvchenko, V. N.; Mil’chanin, O. V.; Didyk, A. Yu.; Skuratov, V. A.; Kislitsyn, S. B.
    A New Nanoporous Material Based on Amorphous Silicon Dioxide
    Подробнее >>
  21. Pikuz, S. A.; Asadchikov, V. E.; Chandler, K. M.; Hammer, D. A.; Dudchik, Yu. I.; Kolchevsky, N. N.; Komarov, F. F.; Mitchell, M. D.; Popov, A. V.; Shelkovenko, T. A.; Senin, R. A.; Suloev, I. A.; Vinogradov, A. V.
    Application of a refractive bubbles-in-capillary x-ray lens to X pinch experiments
    Подробнее >>
  22. Komarov, F. F.; Mil’chanin, O. V.; Munoz, E.; Rodionova, V. N.; Karpovich, V. B.; Krivosheev, R. M.
    Attenuation of Microwave Electromagnetic Radiation by Means of Buckypaper
    Подробнее >>
  23. Makarevich, Yu. V.; Komarov, F. F.; Komarov, A. F.; Mironov, A. M.; Zayats, G. M.; Miskevich, S. A.
    Controlling Boron Diffusion during Rapid Thermal Annealing with CoImplantation by Amphoteric Impurity Atoms
    Подробнее >>
  24. Komarov, F. F.; Mil’chanin, O. V.; Vlasukova, L. A.; Wesch, V.; Komarov, A. F.; Mudryi, A. V.
    Ion Beam Synthesis of InAs Nanocrystals in Crystalline Silicon
    Подробнее >>
  25. Zhevnyak, Oleg; Borzdov, V. M.; Borzdov, Andrey; Pozdnyakov, Dmitry; Komarov, F. F.
    Monte Carlo study of influence of channel length and depth on electron transport in SOI MOSFETs
    Подробнее >>
  26. Komarov, F. F.; Kamyshan, A. S.; Grishin, P. A.
    Peculiarities of proton transmission through tapered glass capillaries
    Подробнее >>
  27. Komarov, F.; Vlasukova, L.; Milchanin, O.; Mudryi, A.; Zuk, J.; Pyszniak, K.; Kulik, M.
    Nanocrystal- and Dislocation-Related Luminescence in Si Matrix with InAs Nanocrystals
    Подробнее >>
  28. Komarov, F.; Vlasukova, L.; Milchanin, O.; Mudryi, A.; Dunets, B.; Wesch, W.; Wendler, E.
    Structure and optical properties of silicon layers with GaSb nanocrystals created by ion-beam synthesis
    Подробнее >>
  29. Анищик, В. М.; Комаров, Ф. Ф.; Лабуда, А. А. 6-я Международная конференция «Взаимодействие излучений с твердым телом» Вестник Белорусского государственного университета. Сер. 1, Физика. Математика. Информатика. – 2006. - № 1. – С. 137-138.
  30. Бойко, Е. Б.; Камышан, А. С.; Комаров, Ф. Ф.; Лагутин, А. Е. Взаимодействие быстрых ионов водорода с поверхностью кремния при скользящих углах падения Вестник Белорусского государственного университета. Сер. 1, Физика. Математика. Информатика. – 2006. - № 2. – С. 20-24.
  31. Комаров, Ф. Ф.; Купчишин, А. И.; Пивоваров, С. П.; Тлебаев, К. Б.; Кусаинов, А. Т.; Рухин, А. Б.; Поздеева, А. В. Исследование влияния γ-облучения на конформацию свободных радикалов в политетрафторэтилене Инженерно-физический журнал. - 2012. - № 2. - С. 421-424.
  32. Макаревич, Ю. В.; Комаров, Ф. Ф.; Комаров, А. Ф.; Миронов, А. М.; Заяц, Г. М.; Мискевич, С. А. Коимплантация атомов амфотерных примесей для управления процессами диффузии бора при быстрых термообработках Известия РАН. Серия физическая. - 2012. - № 5. - С. 643-646.
  33. Погребняк, А. Д.; Дробышевская, А. А.; Береснев, В. М.; Кылышканов, М. К.; Кирик, М. К.; Дуб, С. Н.; Комаров, Ф. Ф.; Шипиленко, А. М.; Телеушев, Ю. Ж. Микро- и нанокомпозитные защитные покрытия на основе Ti−Al−N/Ni−Cr−B−Si−Fe, их структура и свойства Журнал технической физики. - 2011. - № 7. - С 124-131.
  34. Комаров, Ф. Ф.; Комаров, А. Ф.; Миронов, А. М.; Заяц, Г. М.; Макаревич, Ю. В.; Мискевич, С. А. Моделирование технологических процессов субмикронной электроники для систем проектирования интегральных схем Известия РАН. Серия физическая. - 2012. - № 5. - С. 653-658.
  35. Власукова, Л. А.; Комаров, Ф. Ф.; Ювченко, В. Н.; Мильчанин, О. В.; Дидык, А. Ю.; Скуратов, В. А.; Кислицын, С. Б.
     Новый нанопористый материал на основе аморфного диоксида кремния Известия РАН. Серия физическая. - 2012. - № 5. - С. 653-658.
  36. Комаров, Ф. Ф.; Мильчанин, О. В.; Munoz, Е.; Родионова, В. Н.; Карпович, В. Б.; Кривошеев, Р. М. Ослабление электромагнитного излучения СВЧ-диапазона бумагой из углеродных нанотрубок Журнал технической физики. - 2011. - Вып. 11. - С. 140-145.
  37. Комаров, Ф. Ф.; Джадан, М.; Гайдук, П. И.; Челядинский, А. Р.; Явид, В. Ю.; Жуковский, П. В.; Партыка, Я.; Венгерек, П. Остаточные дефекты в кремнии, имплантированном ионами бора и фосфора Физика и химия обработки материалов 2004
  38. Бойко, Е. Б.; Камышан, А. М.; Комаров, Ф. Ф.; Лагутин, А. Е. Применение спек­трометра POP с повышенным энергетическим разрешением для измерения профилей кон­центрации мелкозалегаюшей примеси и параметров ионных пучков Вестник Белорусского государственного университета. Сер. 1, Физика. Математика. Информатика. – 2006. - № 1. – С. 33-37.
  39. Погребняк, А. Д.; Шпак, А. П.; Береснев, В. М.; Кирик, Г. В.; Колесников, Д. А.; Комаров, Ф. Ф.; Конарский, П.; Махмудов, Н. А.; Каверин, М. В.; Грудницкий, В. В. Стехиометрия, фазовый состав и свойства сверхтвердых наноструктурных пленок Ti−Hf−Si−N, полученные с помощью вакуумно-дугового источника в высокочастотном разряде Журнал технической физики. - 2011. - № 13. - С. 90-97.
  40. Комаров, Ф. Ф.; Поздеева, Т. В.; Колковский, В. И. Стойкость к окислению резистов, полученных методом внедрения ионов в металлические матрицы на ситалловой подложке 2003 БГУ Радиофизика и электроника. Сборник научных статей. Серия 6
  41. Урбанович, А. И.; Комаров, Ф. Ф. Температурные поля и трекообразование в материалах, облучаемых ионами высоких энергий Температурные поля и трекообразование в материалах, облучаемых ионами высоких энергий / Ф.Ф. Комаров, А.И. Урбанович // Доклады НАН Беларуси. – 2005. – Т.49,№1. – С.54 – 58.
  42. Урбанович, А. И.; Комаров, Ф. Ф.; Ювченко, В. А. Термоупругая генерация продольных акустических колебаний вблизи ионных треков Термоупругая генерация продольных акустических колебаний вблизи ионных треков/ Ф.Ф. Комаров, А.И. Урбанович, В.А. Ювченко// Доклады НАН Беларуси. – 2006. – Т.50,№3. – С. 37 – 42.
  43. Погребняк, А. Д.; Дробышевская, А. А.; Ильяшенко, М. В.; Кирик, Г. В.; Комаров, Ф. Ф.; Береснев, В. М.; Махмудов, Н. А.; Рузимов, Ш. М.; Шипиленко, А. П.; Телеушев, Ю. Ж.
     Триботехнические, физико-механические свойства и термическая стабильность нано- и микрокомпозитных покрытий на основе Ti-Al-N ФИП. - 2010. - № 1. - С. 20-27.
  44. Комаров, Ф. Ф.; Мильчанин, О. В.; Миронов, А. М. Формирование водородо-индуцированиых дефектов и их применение в технологиях микро- и оптоэлектроники Вестник Белорусского государственного университета. Сер. 1, Физика. Математика. Информатика. – БГУ. –2006. - № 3. – С. 56-62.
  45. Комаров, Ф. Ф.; Власукова, Л. А.; Мудрый, А. В.; Комаров, А. А.; Мильчанин, О. В.; Гайдук, П. И.; Ювченко, В. Н.; Гречный, С. С. Формирование нанокластеров и нанопор в SiO2 ионно-лучевыми методами 2005, ООО «Ковчег».
  46. Камышан, А.С.; Комаров, Ф.Ф.; Лагутин, А.Е. Особенности прохождения быстрых протонов через диэлектрический капилляр Вестник Белорусского государственного университета. Сер. 1, Физика. Математика. Информатика. – БГУ. – 2007. - № 2. - С.8-12

Учебно-методические материалы

  1. Комаров, Ф. Ф. Ионная и фотонная обработка материалов Учебно-методический комплекс, Лабораторные работы
  2. Леонтьев, А. В.; Комаров, Ф. Ф. Матриалы микро- и наноэлектороники Учебно-методический комплекс